The main purpose of this test is to verify the resistance to electrostatic discharge (ESD) caused by the proximity or contact of an object or person or device. 물체나 사람은 15kv 이상의 전압 내부에 정전기를 축적할 수 있습니다. 경험에 따르면 설명할 수 없는 많은 실패와 손상이 ESD로 인해 발생할 수 있습니다. ESD 시뮬레이터에서 EUT 표면과 그 근처로 방전함으로써 테스트 기기(EUT)는 ESD 활동을 포착합니다. 방전의 심각성 수준은 제조업체가 작성한 제품 표준 및 EMC 테스트 계획에 명확하게 정의되어 있습니다. EUT는 모든 작동 모드에서 기능 장애 또는 간섭을 확인합니다. 합격/불합격 기준은 EMC 테스트 계획에 정의되어야 하며 제품 제조업체에서 결정해야 합니다.

PCB transient conductivity resistance

이 시험의 주요 목적은 유도성 부하 또는 접촉기에 의해 생성될 수 있는 급격한 상승 시간과 함께 과도 및 단기 충격에 대한 EUT의 저항을 확인하는 것입니다. 이 테스트 펄스의 빠른 상승 시간과 반복적인 특성으로 인해 이러한 스파이크가 EUT 회로에 쉽게 침투하고 잠재적으로 EUT 작동을 방해할 수 있습니다. 주 전원 공급 장치 및 신호 라인의 유전율에 직접 작용하는 과도 전류. 다른 PCB 내성 시험에서, EUT는 일반적인 작동 구성을 사용하여 통과/실패 기준으로 모니터링되어야 합니다.

Resistance of PCB to electromagnetic radiation

이 테스트의 주요 목적은 라디오, 트랜시버, 모바일 GSM/AMPS 전화 및 산업용 전자기 소스에서 생성된 다양한 전자기장에 대한 제품의 PCB 간섭 방지 기능을 확인하는 것입니다. 시스템이 차폐되지 않은 경우 전자기 복사가 인터페이스 케이블에 결합되어 전도 경로를 통해 회로에 들어갈 수 있습니다. 또는 인쇄 회로의 배선에 직접 연결될 수 있습니다. When the amplitude of the rf electromagnetic field is large enough, the induced voltage and demodulated carrier can affect the normal operation of the device.

PCB radiation resistance Test run This test run is usually the longest and most difficult, requiring very expensive equipment and considerable experience. In contrast to other PCB immunity tests, success/failure criteria defined by the manufacturer and a written test plan must be sent to the test room. 피시험기기를 방사선장에 공급할 때 피시험기기는 정상 작동 및 가장 민감한 모드로 설정되어야 합니다.

EUT가 주파수가 요구되는 80MHz ~ 1GHz 주파수 범위를 초과하는 차등 간섭 필드에 노출되면 시험실에서 정상 작동이 설정되어야 합니다. Some PCB anti-interference standards start at 27MHz. 심각도 수준 이 표준은 일반적으로 1V/m, 3V/m 또는 10V/m의 PCB 저항 수준을 요구합니다. 그러나 장치 사양에는 특정 “문제(간섭) 주파수”에 대한 고유한 요구 사항이 있을 수 있습니다. The appropriate PCB radiation resistance level of the product is of interest to the manufacturer.

통합 현장 요구 사항 새로운 PCB 간섭 저항 표준 EN50082-1:1997은 IEC/EN61000-4-3을 참조합니다. IEC/EN61000-4-3은 테스트 샘플을 기반으로 하는 통합 테스트 환경을 요구합니다. The test environment was realized in an anechoic room with tiles arranged with ferrite absorbers to block reflection and resonance in order to establish a unified test site indoors. 이것은 기존의 라이닝이 없는 방에서 반사 및 필드 기울기로 인해 발생하는 갑작스럽고 빈번한 반복 불가능한 테스트 오류를 ​​극복합니다. (반무향실은 정확도가 요구되는 실내 비정상 환경에서 방사 방출을 측정하기에 이상적인 환경이기도 합니다.)

반무향실의 건설 반무향실의 벽과 천장에는 RF 흡수기를 설치해야 합니다. 역학 및 RF 설계 사양은 실내 지붕을 덮고 있는 무거운 페라이트 타일을 수용해야 합니다. 페라이트 벽돌은 유전체 위에 놓여 있으며 방의 상단에 부착됩니다. 안감이 없는 방에서 금속 표면의 반사는 공명과 정상파를 일으켜 테스트 공간의 강도에서 최고점과 최저점을 생성합니다. 안감이 없는 일반적인 방의 필드 기울기는 20~40dB일 수 있으며 이로 인해 테스트 샘플이 매우 낮은 필드에서 갑자기 실패한 것처럼 보입니다. 실내의 공명은 매우 낮은 테스트 반복성과 높은 “과대 테스트” 비율을 초래합니다. (이로 인해 제품이 과도하게 설계될 수 있습니다.) 동일한 현장 요구 사항을 요구하는 새로운 PCB 간섭 방지 표준 IEC1000-4-3은 이러한 심각한 결함을 해결했습니다.

테스트 사이트를 생성하는 데 필요한 하드웨어 및 소프트웨어에는 테스트 중인 장치에서 26미터 떨어진 2MHz ~ 3GHz 이상의 주파수 범위에서 광대역 송신 안테나를 구동하기 위한 고출력 광대역 RF 증폭기가 필요했습니다. Fully automated testing and calibration under software control provides greater flexibility for testing and full control of all key parameters such as scan rate, frequency pause time, modulation and field strength. 소프트웨어 후크는 모니터링의 동기화와 EUT 기능의 자극을 허용합니다. EMC 테스트 소프트웨어 및 EUT 매개변수를 실시간으로 변경할 수 있도록 실제 테스트에서 대화형 기능이 필요합니다. 이 사용자 액세스 기능을 사용하면 EUT EMC 성능의 효과적인 평가 및 분할을 위해 모든 데이터를 신속하게 기록할 수 있습니다.

피라미드형 흡수체 전통적인 피라미드형(원추형) 흡수체가 효과적이지만 피라미드의 크기 때문에 방에서 사용 가능한 작은 공간을 테스트하는 것이 불가능합니다. 80MHz의 낮은 주파수에서는 피라미드형 흡수체의 길이를 100cm로 줄여야 하고, 26MHz의 더 낮은 주파수에서 작동하려면 피라미드형 흡수체의 길이는 2m 이상이어야 합니다. 피라미드형 흡수체에도 단점이 있습니다. 깨지기 쉽고 충돌에 쉽게 손상되며 가연성입니다. 방 바닥에 이러한 흡수재를 사용하는 것도 실용적이지 않습니다. 피라미드형 흡수체의 가열로 인해 일정 기간 동안 200V/m 이상의 전계 강도는 화재의 위험이 높습니다.

페라이트 타일 흡수체

페라이트 타일은 공간적으로 효율적이지만 방의 지붕, 벽 및 문에 상당한 무게를 추가하므로 방의 기계적 구조가 매우 중요합니다. 저주파수에서는 잘 작동하지만 1GHz 이상의 주파수에서는 상대적으로 비효율적입니다. 페라이트 타일은 밀도가 매우 높으며(100mm×100mm×6mm 두께) 화재 위험 없이 1000V/m를 초과하는 전계 강도를 견딜 수 있습니다.

PCB 내방사선성 시험의 어려움 EUT 작동에 사용되는 보조 장비는 자체 성능을 모니터링하기 위해 자극 신호를 제공하기 때문에 자체적으로 이 민감한 필드에 대한 PCB 내성이 있어야 하며, 이는 방사 감도 시험을 실행하는 데 고유한 어려움입니다. 이것은 특히 보조 장비가 복잡하고 차폐된 시험실을 통해 구멍이 뚫린 피시험기기에 대한 많은 케이블과 인터페이스를 필요로 할 때 종종 어려움을 초래합니다. 테스트 룸을 통과하는 모든 케이블은 테스트 룸의 차폐 성능이 저하되는 것을 방지하기 위해 테스트 필드가 케이블로부터 차폐되도록 차폐 및/또는 필터링되어야 합니다. 테스트 룸의 차폐 성능이 저하되면 테스트 사이트가 주변 환경으로 부주의하게 누출되어 스펙트럼 사용자에게 간섭을 일으킬 수 있습니다. 데이터가 많거나 고속 데이터 링크가 사용되는 경우와 같이 데이터 또는 신호 라인에 RF 필터를 사용하는 것이 항상 가능한 것은 아닙니다.